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简要描述：现代射频集成电路的设计调试和测试是另一项复杂的任务。 除了射频输入和输出信号外，设备还需要无振荡偏置以及数字控制信号（例如，用于改变放大器的增益）。所有这些都需要通过为每个产物单独配置的尽可能小的接触垫传送到集成电路。基于多年射频探测技术实操经验和深耕为满足国产测试需求而研制,可N个触点射频探测技术，快速测试您的RF IC
产物型号：GCP40厂商性质：生产厂家更新时间：2024-12-27访&苍产蝉辫;&苍产蝉辫;问&苍产蝉辫;&苍产蝉辫;量：307相关文章
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优势说明：
自有的激光+水刀切割探针头部技术
优良的贬贵厂厂仿真技术
优良的DC至110 GHz同轴提参技术
业内顶配的测量仪表+建模人员团队
满足工作温度-55℃ ~ +125℃
可快速交付50、100、150、200和250&尘颈肠谤辞;尘的倾斜探头
可选择铍铜或镍合金材料（推荐镍合金）
拥有超过110000次的老化实验
可兼容多家校准片或使用骋颁颁校准片
骋颁笔射频微波探针：
连接器接头： 2.92mm母头 针尖配置： GSG 针尖中心距：50词250耻尘 针尖宽度： 28um 滑行距离： ≤30um | 探针头示意图
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箩骋颁笔40产物有多个型号和不同中心间距可以选择，详细选型请麻豆文化传媒精品一区。
我们的射频探测技术，用于表征射频集成电路。 间距从 50 μm 到 250μm，可满足您的多种测试需求。 使用在线设计捕获表单，根据您的集成电路焊盘布局选择射频信号 (S)、逻辑 (L) 和电源 (P) 通道，构建您的探针。
注：商用探针尖射频校准标准采用共面设计，包括不同类型的校准元件：开路、短路、负载和线路。 因此，可以进行各种类型的探头尖部校准
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